GaN HEMT的工作原理与热阻测试原理
11:00-12:00
闫大为 江南大学物联网工程学院 副教授,硕士生导师
博士,电子工程系副教授,硕士生导师,IEEE Member。2011年毕业于南京大学电子科学与工程系获博士学位,美国范德堡大学电子工程系访问学者。主要研究方向为功率芯片和应用模块的设计、可靠性与失效测试分析,以及电学和光电检测设备的硬件系统和软件的开发等。主要建设了江南大学功率芯片和应用模块实验室,搭建了完备的半导体器件测试系统,并与多家知名半导体企事业单位建立了良好的合作关系;主持了多项纵向和横向课题,任多家主流SCI期刊评审人,包括APL, EDL,TED, PTL和JAP等。
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