饶骞
是德科技电源和通用产品市场经理
物联网终端和智能设备设计的可靠性之惑和解决之道
在这个专题中， 将结合过去两年多测试的经验， 进行深一步探究并提出一些解决方法， 帮助工程师朋友们少走些弯路。
目录
介绍
1- 智能设备面临的常见射频测试问题
26:04
2- 精确的功耗分析， 以及电池性能和寿命的准确评估
37:47
课程简介
很多工程师都在尝试将传统的产品被植入物联网技术，使之变得更智能、高效和有竞争力。 可是， 我们经常看到， 当把外购的物联网模块植入到自己产品中， 会发现通信性能在不同的设计和工作场景下千差万别；电池的理论估算工作寿命也会与实际使用寿命相差千里等等问题。
【大纲】
1. 智能设备面临的常见射频测试问题
2. 常见无线通信信号的产生和分析
3. 精确的功耗分析， 以及电池性能和寿命的准确评估
【大纲】
1. 智能设备面临的常见射频测试问题
2. 常见无线通信信号的产生和分析
3. 精确的功耗分析， 以及电池性能和寿命的准确评估
演讲老师
