本次课程我们将关注芯片、半导体器件、材料、驱动电路测试中经常遇到的高带宽、动态微小电流和电压测量。 我们会展示几种不同的测试手段和方案，比较他们的优缺点， 以及各自适应的应用场景。
1） 数字万用表、示波器电流探头等通用电流测量仪表采用的技术和优缺点；
2） 直流电源分析仪的无缝量程和长时间记录仪如何应对物联网、穿戴、智能终端等高动态、长时间功耗测试；
3） 精密源表SMU在半导体器件伏安曲线、MEMS、绝缘材料的纳安、皮安的暗电流或电阻率的测量。
4） 高速采样和超低底噪的器件电流波形分析仪，针对新型阻变存储器、脑机接口、XPU处理器芯片等动态电流、电压等测试方法。