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MOSFET参数安全工作区及失效模式可靠性试验解读
齐宝鑫
30:12 / 共1课时
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介绍
晶恒
30:12
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课程简介
MOSFET参数安全工作区及失效模式可靠性试验解读
演讲老师
齐宝鑫
塑封型产品研发副经理
现任职塑封型产品研发副经理,曾任职多年塑封型产品生产工艺经理。熟知塑封型半导体器件的设计难点、制程难点、客户应用要求,致力于半导体器件的研发方案设计、制程工艺管控。
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